|
Arabic
Bengali
Chinese
English
French
German
Hebrew
Hindi
Italian
Japanese
Korean
Malay
Polish
Portuguese
Spanish
Turkish
Ukrainian
Vietnamese
ENCYKLOPEDIA RADIOELEKTRONIKI I INŻYNIERII ELEKTRYCZNEJ Tester diod i tranzystorów bipolarnych. Encyklopedia elektroniki radiowej i elektrotechniki
Encyklopedia radioelektroniki i elektrotechniki / Technologia pomiarowa Większość nowoczesnych testerów (multimetrów) ma wbudowane funkcje testowania diod, a czasem tranzystorów. Ale jeśli twój tester nie ma tych funkcji, możesz zmontować tester diod i tranzystorów własnymi rękami. Poniżej projekt testera opartego na mikrokontrolerze PIC16F688. Logika testowania diod jest bardzo prosta. Dioda to złącze PN, o którym wiadomo, że przewodzi prąd tylko w jednym kierunku. Dlatego działająca dioda będzie przewodzić prąd w jednym kierunku. Jeśli dioda przewodzi prąd w obu kierunkach, dioda nie działa - jest uszkodzona. Jeśli dioda nie przewodzi w żadnym kierunku, dioda również nie działa. Implementacja obwodu tej logiki jest pokazana poniżej.
Ta logika może być łatwo dostosowana do testu tranzystora bipolarnego, który zawiera dwa złącza PN: jedno między bazą a emiterem (złącze BE) i jedno między bazą a kolektorem (złącze BC). Jeśli oba złącza przewodzą prąd tylko w jednym kierunku, tranzystor działa, w przeciwnym razie nie działa. Typ tranzystora pnp lub npn możemy również rozpoznać po określeniu kierunku przewodzenia prądu. Do testowania tranzystorów mikrokontroler wykorzystuje 3 wejścia/wyjścia
Sekwencja testu tranzystora: 1. Włącz wyjście (ustaw na jeden) D2 i odczytaj D1 i D3. Jeśli na D1 znajduje się jednostka logiczna, złącze BE przewodzi prąd, w przeciwnym razie nie. Jeśli D3 wynosi 1, to BC przewodzi prąd, w przeciwnym razie nie.
Ponadto, jeśli BE i BC przewodzą prąd, to tranzystor jest typu npn i działa. Jeśli jednak EB i CB przewodzą prąd, to tranzystor typu pnp też działa. We wszystkich innych przypadkach (na przykład EB i BE przewodzą prąd lub oba przejścia BC i CB nie przewodzą itp.) Tranzystor jest w stanie niedziałającym. Schemat ideowy testera diod i tranzystorów oraz opis
Obwód testera jest bardzo prosty. Urządzenie posiada 2 przyciski sterujące: Wybierz (wybór) i Szczegół (więcej). Naciskając przycisk Select wybiera się typ testu: test diody lub test tranzystora. Przycisk Detail działa tylko w trybie testu tranzystora, wyświetlacz LCD pokazuje typ tranzystora (npn lub pnp) oraz stan przewodzenia złączy tranzystorowych. Trzy odnogi testowanego tranzystora (emiter, kolektor i baza) są połączone z masą przez rezystor 1 kΩ. Do testów wykorzystywane są piny RA0, RA1 i RA2 mikrokontrolera PIC16F688. Do testowania diody wykorzystywane są tylko dwa wyjścia: E i K (oznaczone na schemacie jako D1 i D2).
Program Oprogramowanie dla tego projektu jest napisane przy użyciu kompilatora MikroC. Podczas testowania i programowania należy zachować ostrożność i przestrzegać ustawień wejść / wyjść MK (RA0, RA1 i RA2). często zmieniają się podczas pracy. Przed ustawieniem dowolnego wyjścia na 1 upewnij się, że pozostałe dwa wejścia/wyjścia MCU są zdefiniowane jako wejścia. W przeciwnym razie możliwe są konflikty wejść / wyjść MK.
/*
Project: Diode and Transistor Tester
Internal Oscillator @ 4MHz, MCLR Enabled, PWRT Enabled, WDT OFF
Copyright @ Rajendra Bhatt
November 9, 2010
*/
// LCD module connections
sbit LCD_RS at RC4_bit;
sbit LCD_EN at RC5_bit;
sbit LCD_D4 at RC0_bit;
sbit LCD_D5 at RC1_bit;
sbit LCD_D6 at RC2_bit;
sbit LCD_D7 at RC3_bit;
sbit LCD_RS_Direction at TRISC4_bit;
sbit LCD_EN_Direction at TRISC5_bit;
sbit LCD_D4_Direction at TRISC0_bit;
sbit LCD_D5_Direction at TRISC1_bit;
sbit LCD_D6_Direction at TRISC2_bit;
sbit LCD_D7_Direction at TRISC3_bit;
// End LCD module connections
sbit TestPin1 at RA0_bit;
sbit TestPin2 at RA1_bit;
sbit TestPin3 at RA2_bit;
sbit Detail at RA4_bit;
sbit SelectButton at RA5_bit;
// Define Messages
char message1[] = "Diode Tester";
char message2[] = "BJT Tester";
char message3[] = "Result:";
char message4[] = "Short";
char message5[] = "Open ";
char message6[] = "Good ";
char message7[] = "BJT is";
char *type = "xxx";
char *BE_Info = "xxxxx";
char *BC_Info = "xxxxx";
unsigned int select, test1, test2, update_select, detail_select;
unsigned int BE_Junc, BC_Junc, EB_Junc, CB_Junc;
void debounce_delay(void){
Delay_ms(200);
}
void main() {
ANSEL = 0b00000000; //All I/O pins are configured as digital
CMCON0 = 0?07 ; // Disbale comparators
PORTC = 0;
PORTA = 0;
TRISC = 0b00000000; // PORTC All Outputs
TRISA = 0b00111000; // PORTA All Outputs, Except RA3 (I/P only)
Lcd_Init(); // Initialize LCD
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR); // CLEAR display
Lcd_Cmd(_LCD_CURSOR_OFF); // Cursor off
Lcd_Out(1,2,message1); // Write message1 in 1st row
select = 0;
test1 = 0;
test2 = 0;
update_select = 1;
detail_select = 0;
do {
if(!SelectButton){
debounce_delay();
update_select = 1;
switch (select) {
case 0 : select=1;
break;
case 1 : select=0;
break;
} //case end
}
if(select == 0){ // Diode Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message1);
Lcd_Out(2,2,message3);
update_select=0;
}
TRISA = 0b00110100; // RA0 O/P, RA2 I/P
TestPin1 = 1;
test1 = TestPin3 ; // Read I/P at RA2
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110001; // RA0 I/P, RA2 O/P
TestPin3 = 1;
test2 = TestPin1;
TestPin3 = 0;
if((test1==1) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message4);
}
if((test1==1) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message5);
}
} // End if(select == 0)
if(select && !detail_select){ // Transistor Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message2);
update_select = 0;
}
// Test for BE and BC Junctions of n-p-n
TRISA = 0b00110101; // RA0, RA2 I/P, RA1 O/P
TestPin2 = 1;
BE_Junc = TestPin1 ; // Read I/P at RA0
BC_Junc = TestPin3; // Read I/P at RA2
TestPin2 = 0;
// Test for EB and CB Junctions of p-n-p
TRISA = 0b00110110; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin1 = 1;
EB_Junc = TestPin2;
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110011; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin3 = 1;
CB_Junc = TestPin2;
TestPin3 = 0;
if(BE_Junc && BC_Junc && !EB_Junc && !CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "n-p-n";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else
if(!BE_Junc && !BC_Junc && EB_Junc && CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "p-n-p";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else {
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,"Bad ");
type = "Bad";
}
}
if(select && !Detail){
debounce_delay();
switch (detail_select) {
case 0 : detail_select=1;
break;
case 1 : detail_select=0;
break;
} //case end
update_select = 1;
}
if(detail_select && update_select){
// Test for BE Junction open
if(!BE_Junc && !EB_Junc){
BE_info = "Open ";
}
// Test for BC Junction open
if(!BC_Junc && !CB_Junc){
BC_info = "Open ";
}
// Test for BE Junction short
if(BE_Junc && EB_Junc){
BE_info = "Short";
}
// Test for BC Junction short
if(BC_Junc && CB_Junc){
BC_info = "Short";
}
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,1,"Type:");
Lcd_Out(1,7,type);
Lcd_Out(2,1,"BE:");
Lcd_Out(2,4,BE_info);
Lcd_Out(2,9,"BC:");
Lcd_Out(2,12,BC_info);
update_select = 0;
} // End if (detail_select)
} while(1);
}
Autor: Koltykov A.V.; Publikacja: cxem.net
Sztuczna skóra do emulacji dotyku
15.04.2024 Żwirek dla kota Petgugu Global
15.04.2024 Atrakcyjność troskliwych mężczyzn
14.04.2024
▪ Długopis Livescribe 3 do digitalizacji odręcznych notatek ▪ Dyski półprzewodnikowe nowej generacji firmy Toshiba ▪ Innowacyjna bateria przetrwa dziesięciolecia
▪ sekcja witryny Iluzje wizualne. Wybór artykułów ▪ artykuł W trudnym momencie życia… Popularne wyrażenie ▪ Artykuł Mamoura. Legendy, uprawa, metody aplikacji
Strona główna | biblioteka | Artykuły | Mapa stony | Recenzje witryn
www.diagram.com.ua |
Zobacz inne artykuły Sekcja 
Najnowsze wiadomości o nauce i technologii, nowa elektronika:
Wszystkie języki tej strony